技術名稱 智慧型良率管理
計畫單位 國立成功大學
計畫主持人 鄭芳田
技術簡介
產品良率直接影響生產成本的多寡,許多廠商都希望能夠在研發及製造過程中快速提升品質與良率,又或是當良率發生異常時,快速找出根本問題並持續改善之,進而達到高良率且穩定量產之境界來降低成本。蒐集製程資料後進行分析,找出關鍵資訊,透過調整機台參數來穩定製程,是目前提升良率的方式之一。但是大量的資訊蒐集與分析
科學突破性
"傳統上的良率管理是以工程師專業經驗進行判斷造成缺陷的來源,然而人工判斷缺陷來源不僅耗時,也沒有效率。再者並非所有缺陷都能如願找到根本原因。若不能即時找出缺陷原因並加以修復,將導致缺陷持續發生、造成公司的損失。
本智慧型良率管理(Intelligent Yield Management, IYM)系
產業應用性
"此技術可提供終良率管理使用。透過生產路徑、生產機台資料、量測結果、缺陷檢測以及最終良率資料的收集,快速找出影響最終良率之關鍵因子以提升良率、穩定生產品質。

本技術已與「日月光半導體製造股份有限公司」簽訂技轉合約,並成功導入該公司產線使用。日月光是全球最大的半導體封裝與測試製造服務公司,提供半導體
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  • 林祐全
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