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    • 小型電離層探測儀

      電子與光電 未來科技展 小型電離層探測儀

      小型電離層探測儀（CIP）首創以單一探測器，達成量測多種電漿特性的儀器。以分時方式，量測完整的電離層電漿特性（如
離子密度、離子速度、離子溫度、電子溫度）。以最高取樣率（1,024 Hz）量測電漿不規則體細微結構。
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