本技術利用二維影像來探討三維空間中被偵測之物體，以影像感測元件陣列為基礎，利用影像擷取裝置中影像感測元件之幾何關係與數值演算方法，將影像幾何演算法應用於計算物件特徵或位置及偵測裝置參數估測。
藉由CCD影像像素陣列及影像處理裝置，解算物件特徵係為一位置、一長度、一形狀或面積等。
本技術可應用於影像光學量測，如工業應用之物體裂縫偵測、良品識別等、空間目標位置、長度、形狀或面積量測等。
