技術名稱 | 先進大範圍晶圓檢測精密量測平台 | ||
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計畫單位 | 國立台灣大學 | ||
計畫主持人 | 陳亮嘉 | ||
技術簡介 | "創新式Abbe-free晶圓三軸量測平台系統,可實現符合Abbe-free誤差架構的大範圍 (12吋晶圓) XYZ 三軸位移平台,為國內首見由學界自行研發的奈米級精密平台,可廣泛應用於精密製程與線上量測的使用,可供國內進行光學量測探頭之整合與應用測試。 晶圓檢測平台技術成功結合精密量測、精密定位 |
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科學突破性 | "創新式Abbe-free晶圓三軸量測平台系統: 為創新性產品,目前沒有相同的產品,目前在德國有一台三軸類似平台,運用不同原理,其可移動範圍僅達200x200x50 mm3 . 目前僅生產一台給Stuttgart 大學,運用於AOI ,售價為500萬歐元 (約NT$2億),其仍未真正進入市場. 本 |
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產業應用性 | "1.晶圓CMP研磨後表面之平整度與瑕疵檢測,大尺寸晶圓檢測更容易 2.晶圓微影曝光後之奈米級線寬等CD檢測 3.定位技術是機械工業的重要基礎之一,將定位精度提升到奈米等級,是一個由機械領域切入奈米技術的關鍵點。長行程奈米定位平台可運用在半導體封裝製程,與超精密加工機台,也可為量測機台提供精準的橫向 |
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關鍵字 |