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    • 現場鏡面量測儀 - 奈米微測 即時校正

      電子與光電 未來科技展 現場鏡面量測儀 - 奈米微測 即時校正

      臨場大型X光鏡面量測技術中的長程鏡面量測儀(LTP)在全世界的許多同步加速器研究中心使用，可以用於測量X光鏡的面形和中頻粗糙度。測量過程精確、高速、非接觸，測量曲率半徑範圍可以從5 m至∞，能夠測量範圍內的表面輪廓面貌，縱向解析度為0.15 nm，未來可用於測量鏡面製作和安裝成果。
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