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    • 具動態密鑰之高安全性晶片測試技術

      電子與光電 未來科技展 具動態密鑰之高安全性晶片測試技術

      本技術提出一種高安全性之晶片測試架構防護技術,可以在測試時以動態方式產生密鑰,在不降低系統性能和可測試特性的情況下,本技術可有效抵禦針對掃描鏈和記憶體的攻擊。且由於本技術之動態特性,其安全等級遠高於所有現有技術,且無論攻擊者嘗試多少次密鑰猜測,本技術之安全等級亦不會降低。
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