本發明提供一種落射頂錐殼層光超解析系統及落射熒光顯微鏡。落射頂錐殼層光超解析系統包含：發光元件、透鏡組及物鏡。發光元件發出的激發光通過透鏡組後折射為環形光，並聚焦至物鏡的後物鏡後焦平面，物鏡將環形光聚焦形成環形光錐並聚焦於樣本位置，環形光錐具有固定的厚度。此外，激發及取像皆使用同一物鏡，進而達成落射

落射頂錐殼層光超解析系統有以下多項技術突破:
1.透過本發明的落射頂錐殼層光超解析系統，可以對有厚度的樣本進行熒光激發。
2.在激發樣本中的熒光物質時，可以僅激發特定區域的熒光物質
3.可以透過激發不同深度的樣本以得到立體的樣本信息
4.可透過本發明的落射熒光顯微鏡鏡，以達成更佳的影像分辨率和質量

落射頂錐殼層光超解析系統因其簡約設計和與一般共軛焦顯微鏡兼容性，使得此系統相較於大廠的超解析顯微鏡較有競爭力。更重要的是，頂錐光環專利可避免螢光漂白和損壞在超解析顯微鏡技術上的問題，也會導致顯微鏡大廠像是Zeiss和Olypus若要使用此光學技術非得得到授權或是買斷此專利才得以改善他們系統內雷射容易