技術名稱 | 低溫超臨界流體之電子元件處理技術 | ||
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計畫單位 | 國立中山大學 | ||
計畫主持人 | 張鼎張 | ||
技術簡介 | "本團隊獨創新興半導體製程技術-超臨界流體處理技術。 藉由超臨界流體處理技術可大幅提升電子元件的性能,如鰭式場效電晶體、深紫外光發光二極體、高頻/高功率電晶體、太陽能電池、電阻式記憶體、氣體感測器、二維材料電子元件等。在學術研究上深具前瞻性與創新性;在工業應用上,亦可能將顛覆世界半導體工業技術發展, |
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科學突破性 | "現今電子元件的效率無法達到理論值,大部分都跟電子元件內的缺陷有關,這些缺陷來源可能是材料本身的缺陷、材料之間的介面缺陷或製造過程產生的缺陷。 半導體製程中多仰賴高溫或電漿進行處理,會有熱預算與電漿損傷的副作用。 超臨界流體處理技術,是本團隊獨創的低溫缺陷鈍化技術。本技術透過超臨界流體高穿透度與高溶 |
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產業應用性 | "超臨界流體處理技術可以在接近室溫的狀態下,選擇性消除電子元件與材料的缺陷。 優點: 以現今半導體製程技術而言屬於低溫的處理技術、非破壞性、可批次式大量處理及具高度選擇性,且可同時匹配半導體的前段製程(Front end of line, FEOL)及後段製程技術(Back end of line, |
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關鍵字 |